仪器介绍

PL Imaging system（光致发光检测系统）是一种全新的应用于太阳能电池缺陷检测的手段，以往的EL Imaging（电致发光）只能用于检测电池片及模组的缺陷检测，而PL Imaging则延伸到了Wafer 的缺陷检测，从而在前一个工序，对产品的质量监控有了一个更有力的保障。

此款产品广泛应用于太阳能电池研究及应用的企业及高校研究所。

系统组成：

-K301VIS/IR Imaging 装置

-激光及激光power

-光致发光光学系统

-样品JIG（156*156mm)

-温度控制模块

主要特点

-利用电致/光致发光手段同时检测wafer，电池片的各种缺陷。

-不仅适用于单晶，而且也适用于多晶硅及电池片的检测

-测试时间短，精度高

-可以检测到不同于电致发光检测到的缺陷